電子材料の販売、ICパッケージの試作・解析・評価

評価/測定

信頼性試験(HAST,PCT,恒温,恒湿)

お客様のニーズに合わせた熱ストレス試験環境をご提供いたします。

低温、高温、高湿度など熱ストレスをサンプルに与え、腐食発生、マイグレーション発生による故障、寿命評価を行います。絶縁抵抗値を連続モニターする事により、不良発生時間、サイクル、不良モードをご確認頂けます。

・イオンマイグレーション試験
・恒温恒湿放置試験
・高温放置・低温放置試験
・プレッシャークッカー試験
・高温バイアス試験・低温バイアス試験
・ヘリウムリーク(Heリーク)試験

  • 各種試験設備
    各種試験設備
  • 各種試験設備
    各種試験設備

特徴

  • ・試験不良になったサンプルの断面研磨なども承っており、表面上の異常だけでなくサンプル内部への異常もご確認頂けます。

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