電子材料の販売、ICパッケージの試作・解析・評価

評価/測定

信頼性試験(HAST,PCT,恒温,恒湿)

お客様のニーズに合わせた熱ストレス試験環境をご提供いたします。

低温、高温、高湿度など熱ストレスに対するサンプルの耐性をご確認頂けます。また、絶縁抵抗値の連続モニターなど不良発生時間、サイクル、不良モードもご確認頂けます。

・温度サイクル試験
・イオンマイグレーション試験
・恒温恒湿放置試験
・高温放置・低温放置試験
・プレッシャークッカー試験
・高温バイアス試験・低温バイアス試験
・ヘリウムリーク(Heリーク)試験

  • 各種試験設備
    各種試験設備
  • 各種試験設備
    各種試験設備

特徴

  • ・リーズナブルな価格で対応いたします。条件を頂ければ、直ぐに御見積をご提案します。
    (他社より高い場合は、ご遠慮なくお申し付け下さい)
  • ・一定期間での専有ご使用ならびに装置貸与も承ります。
  • ・試験不良になったサンプルの断面研磨などの解析も承ります。
  • ・使用している測定装置は定期的に校正しておりますのでトレースアビリティの問題なくご依頼頂けます。
  • ・試験時の立会いも可能です。

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