なぞり式（非接触）検査装置のご紹介。多条一括検査、治具代不要でファインピッチ検査が可能。| シーマ電子

なぞり式（非接触）検査装置（LINEAR TRACER）

#非接触式 #治具不要 #波形診断 #多条検査 #COFオープンショートチェッカー #半導体トータルソリューションサービス

なぞり式（非接触）検査装置（LINEAR TRACER）

非接触式のオープンショートチェッカー　広幅での多条検査が可能。本装置は、液晶テレビやスマートフォン等に内蔵されているCOF基板の電気検査を行うための装置です。従来の電気検査で行われていた、ピン式とは異なりなぞり方式での給電、非接触センサーを用いたオープンショート検査装置です。

outline

検査時間短縮による生産キャパアップ

製品をスリットせず、多条での検査可能。多条一括（最大60pcs）検査可能なため、検査時間低減に貢献

治具代不要

なぞり検査方式の為、プローブユニットの共用が可能→機種毎のプローブカード製作不要

ファインピッチ検査対応

最小Line/Space：10/10umまで検査可能

note

検査対象の配線片側より給電し、非接触式センサーへ通電します。なぞり方式で通電部の波形を採取、波形の異常の有無にて製品の異常を検出します。

ご提供可能な装置仕様の例

装置外形寸法

装置重量

約1450kg（本体約1140kg、巻取巻出、搬送部約10kg）

検査対象

COF

ワークサイズ

ワーク厚み

0.025mm〜0.125mm

個片サイズ

2PF〜15PF

搬送量

85.5mmから142.5mm

半導体のプロフェショナルにお気軽にご相談をお寄せください。