シーマ電子株式会社

search

なぞり式(非接触)検査装置(LINEAR TRACER)

#非接触式 #治具不要 #波形診断 #多条検査 #COFオープンショートチェッカー #半導体トータルソリューションサービス

なぞり式(非接触)検査装置(LINEAR TRACER)

非接触式のオープンショートチェッカー 広幅での多条検査が可能。本装置は、液晶テレビやスマートフォン等に内蔵されているCOF基板の電気検査を行うための装置です。従来の電気検査で行われていた、ピン式とは異なりなぞり方式での給電、非接触センサーを用いたオープンショート検査装置です。

outline
検査時間短縮による生産キャパアップ

製品をスリットせず、多条での検査可能。多条一括(最大60pcs)検査可能なため、検査時間低減に貢献

治具代不要

なぞり検査方式の為、プローブユニットの共用が可能→機種毎のプローブカード 製作不要

ファインピッチ検査対応

最小Line/Space:10/10umまで検査可能

note

検査原理

検査対象の配線片側より給電し、非接触式センサーへ通電します。なぞり方式で通電部の波形を採取、波形の異常の有無にて製品の異常を検出します。

  • 検査原理のイメージ
    検査原理のイメージ

装置仕様

ご提供可能な装置仕様の例

装置外形寸法
  • W3230mmxD1480mmxH1900mm
  • W3242mmxD1480mmxH1900mm(スプライサ含)
  • W3415mmxD1480mmxH1900mm(スプライサ+リール含)
装置重量

約1450kg(本体約1140kg、巻取巻出、搬送部約10kg)

検査対象

COF

ワークサイズ
  • 158mm(48mmx3条)
  • 262mm(35mmx6条、48mmx5条、70mmx3条)
ワーク厚み

0.025mm〜0.125mm

個片サイズ

2PF〜15PF

搬送量

85.5mmから142.5mm

  • 検査イメージ
    検査イメージ
納品までの流れ

service flow_納品までの流れ

半導体のプロフェショナルにお気軽にご相談をお寄せください。

  • flow01

    01_お問い合わせ

  • flow02

    02_担当者コンタクト

  • flow03

    03_お打ち合わせ

  • flow04

    04_仕様決定

  • flow05

    05_お見積り提出

  • flow06

    06_ご発注

  • flow07

    07_作業実施

  • flow08

    08_納品