なぞり式(非接触)検査装置(LINEAR TRACER)
#多条検査 #COFオープンショートチェッカー #半導体トータルソリューションサービス #非接触式 #治具不要 #波形診断
検査時間短縮による生産キャパアップ
製品をスリットせず、多条での検査可能。多条一括(最大60pcs)検査可能なため、検査時間低減に貢献
治具代不要なぞり検査方式の為、プローブユニットの共用が可能→機種毎のプローブカード 製作不要
ファインピッチ検査対応最小Line/Space:10/10umまで検査可能
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