シーマ電子株式会社

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HAST/プレッシャークッカー試験

#環境試験 #高温高湿バイアス #マイグレーション #基板マイグレーション

HAST/プレッシャークッカー試験受託サービスについて

半導体及び電子部品の耐湿性を加速評価致します。試験槽内を高温高湿環境にし、試験サンプルにストレスを与え、腐食及びマイグレーション発生による故障・寿命評価を確認する信頼性試験です。

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HAST/プレッシャークッカー試験の詳細

飽和条件下(湿度100%)及び不飽和条件(湿度85%)での試験に対応しております。絶縁抵抗値を連続モニターする事により、不良発生時間を確認する事ができます。パッケージ単体から基板実装品まで測定対応致します。

特徴
  • 高温高湿条件にて実施可能(105〜162.2℃、75〜100%)
  • 槽内サイズ:φ35mm×L428mm、W355mm×H355mm×L426mm
  • バイアス:100V
  • チャンネル数:30ch
  • 環境試験機
    環境試験機
HAST/プレッシャークッカー試験におけるシーマ電⼦の強み

評価用サンプル及び評価用基板の作製から二次実装まで対応致します。
また、試験後の観察(X線観察、SAT観察、断面研磨 / 観察(イオンミリング可)、SEM観察)を行う事も可能です。
その他環境試験(パワーサイクル試験、高温バイアス試験、高温高湿試験、HAST試験、高温低温放置試験など)も受託しております。
基板作成から二次実装、不良解析までトータルでのサービスをご提供致します。

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納品までの流れ

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半導体のプロフェショナルにお気軽にご相談をお寄せください。

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