シーマ電子株式会社

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高温高湿試験、高温高湿バイアス試験

#寿命試験 #加速試験 #信頼性試験

高温高湿試験、高温高湿バイアス試験受託サービスについて

半導体デバイス及び電子デバイスを規定の温度/湿度環境下にて一定時間曝された場合の耐性を評価します。金属の腐食を加速させる環境下にて、測定サンプルに電圧を印加する絶縁破壊評価も対応致します。

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高温高湿試験

最大24CHでの絶縁抵抗値の連続モニタリングも対応致します。

設備スペック
  • 温度範囲:-40℃〜150℃
  • 湿度範囲:20%RH〜98%RH

高温高湿バイアス試験

最大24CHでの絶縁抵抗値の連続モニタリングも対応致します。

特徴
  • 高電圧条件での試験も対応致します。
  • 複数サンプルの同時評価投入も対応可能です。
  • 試験完了後、断面研磨による故障確認、C-SAM(SAT)、CT-X線などを用いた非破壊での内部確認なども承っております。
納品までの流れ

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