SEM観察受託サービス。走査型電子顕微鏡により被写体深度が深く、高倍率での観察が可能。| シーマ電子

SEM（走査型電子顕微鏡）観察

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SEM（走査型電子顕微鏡）観察受託サービスについて

SEM観察の受託を承っております。製品開発の確認、製造時トラブルの原因究明等にご利用頂けます。半導体パッケージ、金属、樹脂、有機物材料など幅広い物を観察可能です。

◎日立ハイテク社走査電子顕微鏡FlexSEM1000IIを新規導入

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被写体深度が深く、高倍率での観察が可能。試料を本体にセットし、真空状態にし、フラッシング（電界放出電子銃）で電圧で印加することにより観察。

=装置で得られる情報=

半導体パッケージ、金属、樹脂、有機物材料など幅広い物を観察可能です。メッキの厚み測定、合金層の確認など微細な観察が可能です。また、測長機能もある為、材料厚みなど内部構造の確認が可能です。

被写体深度が深く、高倍率での観察が可能。試料を本体にセットし、真空状態にし、フラッシング（電界放出電子銃）で引出電圧で印加することにより観察。観察した画像をパソコンの方への取り込みも可能。

設備スペック

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