シーマ電子株式会社|SEM(走査型電子顕微鏡)観察

検索
search

SEM(走査型電子顕微鏡)観察

#不良解析 #電子顕微鏡 #断面研磨 #sem観察 #接合評価 #sem 分析 #sem eds 分析

SEM(走査型電子顕微鏡)観察受託受託サービスについて

SEM観察の受託を承っております。製品開発の確認、製造時トラブルの原因究明等にご利用頂けます。半導体パッケージ、金属、樹脂、有機物材料など幅広い物を観察可能です。

outline

サービス特徴SEM(走査型電子顕微鏡)観察

被写体深度が深く、高倍率での観察が可能。試料を本体にセットし、真空状態にし、フラッシング(電界放出電子銃)で電圧で印加することにより観察。

サービスの強みSEM(走査型電子顕微鏡)観察

  • 観察した画像をパソコンの方への取り込みも可能
  • 倍率:x20〜500,000
  • 断面研磨の対応可能

ご依頼例SEM(走査型電子顕微鏡)観察

  • 断面研磨後の不良箇所の確認
  • ワイヤボンディング接続部の状態確認
  • 任意箇所の測長も可能

SEM(走査型電子顕微鏡)観察とは

半導体パッケージ、金属、樹脂、有機物材料など幅広い物を観察可能です。メッキの厚み測定、合金層の確認など微細な観察が可能です。また、測長機能もある為、材料厚みなど内部構造の確認が可能です。

SEM(走査型電子顕微鏡)観察の詳細

被写体深度が深く、高倍率での観察が可能。試料を本体にセットし、真空状態にし、フラッシング(電界放出電子銃)で引出電圧で印加することにより観察。観察した画像をパソコンの方への取り込みも可能。

設備スペック
  • 型式名:日立ハイテクノロジーズ S-4300
  • 倍率:x20〜500,000
拡大画像

よくある質問

観察倍率を教えてください。
20~500,000倍まで対応しています。
観察部の測長は可能ですか?
はい。可能です。メッキ厚、材料厚など測定可能です。

related service_関連するサービス

納品までの流れ

service flow_納品までの流れ

半導体のプロフェショナルにお気軽にご相談をお寄せください。

  • flow01

    01_お問い合わせ

  • flow02

    02_担当者コンタクト

  • flow03

    03_お打ち合わせ

  • flow04

    04_仕様決定

  • flow05

    05_お見積り提出

  • flow06

    06_ご発注

  • flow07

    07_作業実施

  • flow08

    08_納品