シーマ電子株式会社

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SEM(走査型電子顕微鏡)観察

#電子顕微鏡観察 #不良解析

SEM(走査型電子顕微鏡)観察受託受託サービスについて

SEM観察の受託を承っております。製品開発の確認、製造時トラブルの原因究明等にご利用頂けます。半導体パッケージ、金属、樹脂、有機物材料など幅広い物を観察可能です。

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SEM(走査型電子顕微鏡)観察の詳細

被写体深度が深く、高倍率での観察が可能。試料を本体にセットし、真空状態にし、フラッシング(電界放出電子銃)で引出電圧で印加することにより観察。観察した画像をパソコンの方への取り込みも可能。

設備スペック
  • 型式名:日立ハイテクノロジーズ S-4300
  • 倍率:x20〜500,000
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納品までの流れ

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