SEM(走査型電子顕微鏡)観察
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SEM(走査型電子顕微鏡)観察受託サービスについて
SEM観察の受託を承っております。製品開発の確認、製造時トラブルの原因究明等にご利用頂けます。半導体パッケージ、金属、樹脂、有機物材料など幅広い物を観察可能です。
◎日立ハイテク社走査電子顕微鏡FlexSEM1000IIを新規導入
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サービス特徴SEM(走査型電子顕微鏡)観察
被写体深度が深く、高倍率での観察が可能。試料を本体にセットし、真空状態にし、フラッシング(電界放出電子銃)で電圧で印加することにより観察。
=装置で得られる情報=
- 二次電子像:試料表面の凹凸情報
- 反射電子像:試料表面の組成情報
- 測長機能:撮像SEM像の2点間距離の測定
サービスの強みSEM(走査型電子顕微鏡)観察
- 倍率:x20~300,000
- 断面研磨の対応可能
ご依頼例SEM(走査型電子顕微鏡)観察
- 断面研磨後の不良箇所の確認
- ワイヤボンディング接続部の状態確認
- 任意箇所の測長も可能
- IC基板の断面観察による不良解析
- 材料表面観察:金属試料、絶縁物試料、有機材料、無機材料
SEM(走査型電子顕微鏡)観察とは
半導体パッケージ、金属、樹脂、有機物材料など幅広い物を観察可能です。メッキの厚み測定、合金層の確認など微細な観察が可能です。また、測長機能もある為、材料厚みなど内部構造の確認が可能です。
SEM(走査型電子顕微鏡)観察の詳細
被写体深度が深く、高倍率での観察が可能。試料を本体にセットし、真空状態にし、フラッシング(電界放出電子銃)で引出電圧で印加することにより観察。観察した画像をパソコンの方への取り込みも可能。
よくある質問
- 観察倍率を教えてください。
- 20~500,000倍まで対応しています。
- 観察部の測長は可能ですか?
- はい。可能です。メッキ厚、材料厚など測定可能です。
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