電子材料の販売、ICパッケージの試作・解析・評価

評価/測定

熱抵抗測定 /過渡熱抵抗測定/TEG

定常状態(飽和)と過渡熱状態(非飽和)での測定結果をご提供します。

LSIパッケージの放熱特性に関する指標である熱抵抗データを提供し続け20年以上の実績を持っております。
弊社の測定方法は事実上の業界標準(ディファクト・スタンダード)となっています。

  • 測定環境
    測定環境
  • 測定装置
    測定装置

概要イメージ

特長

  • ・低コスト、短納期で対応します。
  • ・θja、θjc、Ψjtを実測いたします。
  • ・熱抵抗測定に使用するヒーターTEGチップも弊社でご用意しております。
  • ・実チップ、TEGチップ共に測定可能です。
  • ・熱抵抗測定に必要なサンプル作製も一括で対応します。
    (パッケージ作製、基板設計・作製、二次実装)
  • ・各種ICパッケージ(LED,BGA,QFNなど)の熱抵抗測定ができます。
  • ・熱電対に関する豊富な経験と知識により、信頼性のある熱抵抗測定結果をご報告いたします。
  • ・測定時の立ち会いも可能です。
  • ・熱抵抗シミュレーション測定との相関取りにもご利用頂いております。
  • ・パワー半導体の熱抵抗測定も行っております。

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