電子材料の販売、ICパッケージの試作・解析・評価

評価/測定

熱抵抗測定 /過渡熱抵抗測定/TEG

定常状態(飽和)と過渡熱状態(非飽和)での測定結果をご提供します。

LSIパッケージの放熱特性に関する指標である熱抵抗データを提供し続け20年以上の実績を有しています。

過渡熱抵抗測定についてはこちら

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概要イメージ

特長

  • ・実チップ、TEGチップ共に測定可能です。
  • ・ヒーターTEGチップも弊社でご用意しております。
  • ・熱抵抗測定に必要なサンプル作製も一括で対応いたします。
  • ・各種ICパッケージ(LED,BGA,QFNなど)の熱抵抗測定に対応いたしております。
  • ・パワー半導体の熱抵抗測定も対応いたしております。
  • 熱電対の取付に関する豊富な経験と知識により、信頼性の高い熱抵抗測定結果をご報告いたします。
  • ・θja、θjc、Ψjtを実測いたします。
  • ・シミュレーションによる熱抵抗値との相関取りにもご利用いただいております。

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