高温高湿試験、高温高湿バイアス試験受託サービス。半導体デバイス及び電子デバイスの耐性を評価。| シーマ電子

高温高湿試験、高温高湿バイアス試験

#寿命試験 #加速試験 #信頼性試験

高温高湿試験、高温高湿バイアス試験受託サービスについて

半導体デバイス及び電子デバイスを規定の温度/湿度環境下にて一定時間曝された場合の耐性を評価します。金属の腐食を加速させる環境下にて、測定サンプルに電圧を印加する絶縁破壊評価も対応致します。

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最大24CHでの絶縁抵抗値の連続モニタリングも対応致します。

設備スペック

最大24CHでの絶縁抵抗値の連続モニタリングも対応致します。

特徴

半導体のプロフェショナルにお気軽にご相談をお寄せください。