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デバイスメーカー様向けサービス

お客様のご要望に合わせたサンプル提案、
サンプル組立、サンプル評価をいたします

当社は半導体の後工程試作からサンプルの各種信頼性評価試験、試験後の解析受託サービスを提供しております。使用装置は量産メーカー様同等ですが、インラインではなく装置が独立している強みを活かし、お客様のご要望に合わせ工程を組み合わせる対応が可能です。また、パッケージやモジュールに必要な各種材料の手配から対応が可能ですので、お客様にてご準備いただくことが難しい材料などもご相談ください。また、お客様がご希望されるご評価に合わせたサンプルの提案も可能です。

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基板などの設計から製作、調達も可能です

評価したい材料にあわせて最適なサンプルの検討、提案をいたします。
また、評価試験条件についても検討提案が可能です。

お問い合わせ
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試作・評価事例

デバイスメーカー様:検証用パッケージサンプルの試作ご相談。金型製作の費用が高く、検証のネックになっていた。

簡易モールド金型を用いたコストを抑えた試作を提案。1台100万円台と量産金型の1/5の費用で金型製作出来る事に魅力を感じていただき、ご依頼くださいました。

デバイスメーカー様:モールド樹脂とフレームの密着性評価のお問い合わせを頂く。

当社プリンカップモールド、シェア試験を提案。プリンカップモールド金型を保有しており、短納期で対応出来る所に魅力を感じていただき、ご依頼くださいました。

デバイスメーカー様:量産品でのトラブル発生に伴う信頼性評価試験の特急対応依頼

当社サーマルサイクル試験機(4台保有)の1台を使用して、休日対応を行い、希望納期にて試験実施。

デバイスメーカー様向けサービス一覧

評価・解析

パワーデバイス材料評価に用いられるパワーサイクル試験や放熱特性やジャンクション温度測定に用いられる熱抵抗測定、部材の温度変化による反り挙動を測定するプロジェクション/シャドウモアレ反り測定など各種評価測定試験の受託が可能です。また、評価後の故障解析もSATやCT-X線、断面解析などで対応可能です。詳しくは個別紹介ページをご覧下さい。

半導体評価・解析サービス
パワーサイクル試験
パワーサイクル試験

電流On/Off時の発熱/冷却挙動を模擬的に繰り返し、その際に生じる熱応力によるデバイス周辺材料の故障評価に用いられる評価試験です。当社では構造関数解析の機能を持った装置を保有し、リアルタイムでの故障解析が可能となっています。

#構造関数 #パワーデバイス材料評価 #信頼性評価 #IGBT #MOSFET #SBD 詳細を見る
熱抵抗測定
熱抵抗測定

熱の伝わりづらさを表す熱抵抗値を測定いたします。当社では30年近く熱抵抗測定を行っており、当社の試験方法が業界標準になるなど、多くのお客様へ信頼の高いデータを提供してまいりました。

#放熱特性 #過渡熱 #ヒータTEGチップ 詳細を見る
非接触反り測定システム
非接触反り測定システム

パッケージ実装時やサーマルサイクル環境下でのパッケージやモジュール、実装基板などの反り挙動を測定いたします。当社ではシャドウモアレ式の他、プロジェクションモアレ式の装置を保有しており、大型基板に複数の部品が搭載された状態でも反り挙動を測定することが可能です。

#基板反り・チップ反り #プロジェクションモアレ式・シャドウモアレ式の双方に対応 詳細を見る
SAT・C-SAM(超音波探傷検査装置)
SAT・C-SAM(超音波探傷検査装置)

SATやCT-X線を使った非破壊検査に対応しております。様々なパッケージの不良解析や内部構造解析の他に、製品の良品不良品判定などの高速検査業務も請け負います。

#ボイド検査 #非破壊解析 #MSL試験 詳細を見る

試作

当社では半導体後工程(ウェハバックグラインド〜パッケージ化)を行うことが可能です。お客様にご要望に合わせ1工程〜複数工程、1個〜からの試作に対応しております。約20年に渡る試作経験よりお客様のご評価に最適な評価サンプルの提案もいたします。また、近年ではパワーデバイス製品に関する試作ご依頼も増えており、そちらのご要望にもお応えできるよう、DBCなどのセラミック基板、IGBTなど実チップ、その他材料の手配からモジュール組立まで請け負っております。

半導体試作サービス
ICパッケージ試作
ICパッケージ試作

BGA、QFN、セラミックパッケージなど各種パッケージに対応いたします。またWafer Level-CSPなどの高密度実装にも対応しております。量産工場と同様のワイヤーボンディング装置やフリップチップ実装機を保有しており、高精度での実装が可能です。

パワーデバイスモジュール試作
パワーデバイスモジュール試作

TO系パッケージ、モジュールタイプなど多様な形状、サイズのパワーデバイス試作が可能です。お客様のご要望に合わせて基板設計から行い、ケース、接合材、チップなどの材料も当社にて手配が可能です。

評価実装

各種環境試験や電気特性試験の際に使用する実装基板の製作〜部品実装まで対応しております。基板設計、材料選定から対応しており、お客様の目的に合わせた提案が可能です。基板はIC向けのリジット基板やフレキシブル基板だけでなく、パワーデバイス向けのセラミック基板などの設計製作が可能です。

半導体評価実装サービス
基板設計、製作
基板設計、製作

IC向けのリジット基板やフレキシブル基板、パワーデバイス向けのセラミック基板やリードフレームなどをご要望に合わせ設計、製作をいたします。狭ピッチレーザービア/ビルドアップ基板や狭ピッチライン&スペース基板、DBC、DBA基板など多品種の基板製作の実績がございます。

部品実装
部品実装

各種電子部品の基板実装(トランジスタ、ダイオード、抵抗、コンデンサ)実装に対応しております。0201サイズから対応しており、多品種少量から大ロットまでフレキシブルに対応いたします。また実装に必要な実装基板や半田マスク、半田材の手配〜行い、N2リフローを用いた鉛フリー実装にも対応します。実装後はマイクロフォーカスX線を用いた検査を行い、納品いたします。

材料・設備調達

当社へサンプル試作や評価依頼を頂くお客様向けに材料の調達から対応いたします。各種基板や接合材料(ハンダやシンター材)、チップ(TEG、IGBT)、ワイヤー(Au,Ag,Cu,Al)、モールド樹脂(トランスファー、コンプレッション)などの手配が可能です。また、お客様にてご用意頂いた材料を用いての試作、評価も承っておりますので、お気軽にご相談ください。

半導体材料・設備調達サービス

コンサルティングサービス

新規開発はもちろん、現在使用されているシステムからのリプレース、古いバージョンから最新バージョンへのバージョンアップ、旧担当者が独自で作成されたブラックボックス部分の解析などさまざまなご要望にお応えいたします。

半導体コンサルティングサービス
納品までの流れ

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